DEICY2019

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66 レベルクロス法解析対象波形が設定されているスライスレベル（セルの区切り）を超えた時に計数します。LVL_CRS： 正負領域とも解析対象波形がスライスレベルを過ぎった時に該当するセルを計数します。（+/-）LVL_CRS： 解析波形の正領域は正傾斜で設定したスライスレベル（セルの大きさ）を超えた時、負領域は負傾斜でスライスレベルを超えた時に計数します。なお、いずれの方法もスライスレベルを飛び越しで超えた時は、飛び越された全てのセルに計数します。右図は波形をセルサイズ20とした場合の（+/-）LVL_CRS法を示します。図中●点は正領域を正傾斜で交差した点、●点は負領域を負傾斜で交差した点を示します。いずれも超えた次のセル番号に計数します。解析結果グラフは時間率解析と同様±表現で表示されます。 時間率頻度解析解析波形のサンプリングされた各データ値を該当するセルに計数します。別の呼び方では度数分布とも言います。 温度時間率頻度解析解析手法は時間率頻度解析と同じ方法ですが、解析条件で、Gate値が設定出来ます。Gate値に設定された値を最小セル値として時間率頻度を求めます。例えば、ある温度以上の値を時間率頻度解析する場合などに用います。 2次元レインフロー法１次元レインフロー法は振幅値のみに着目しましたが、2次元レインフロー法は、個々のループ振幅の平均値にも着目した解析手法で、解析結果はY軸方向に振幅値を、X軸方向に平均値をとった2次元マトリクスの形式となります。X軸（平均値軸）は、平均値の位置をセルに計数しますので±の符号を持ち、設定した総セル数（Class）に対して、セル番号は-Class/2～+Class/2となります。Y軸（振幅値軸）は1次元と同じで、+1～Classのセル番号となります。演算結果は、X軸とY軸の正方マトリクスとなり、被解析波形が設定したセルサイズと総セル数で範囲に入っている場合、計数値の出現するセルは逆三角形の形になります。